基于系统级的FPGA回读量产测试方案研究
Journal: Advances in Computer and Autonomous Intelligence Research DOI: 10.12238/acair.v2i4.10309
Abstract
随着航天领域对空间成像系统的信号处理能力、研制周期的要求愈发苛刻,对FPGA电路的安全性和可靠性的要求越来越高,SRAM型FPGA的结构和静态存储的工艺决定了其对单粒子效应的敏感性极高[1]。所以,对FPGA进行抗单粒子翻转测试尤为重要[2]。针对Virtex-II系列FPGA设计并搭建基于系统级的回读量产测试平台,对系统工作原理进行详细阐述,分析系统下载验证模块,并对该系统有效性进行验证。[3]脱离ATE设备完成对FPGA回读的有效测试,节约FPGA的测试配置时间,节约FPGA的芯片测试成本。
Keywords
FPGA测试；回读；配置
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[1] 李林,徐宇,卢凌云,等.基于部分重构的SRAM型FPGA单粒子翻转模拟[J].微电子学与计算机,2015,(12):95-99+104.
[2] 王佳丽.基于空间成像应用的SRAM型FPGA抗单粒子翻转技术研究[D].中国科学院西安光学精密机械研究所,2018.
[3] 费亚男.基于动态可重构技术的FPGA中SEU故障容错方法研究[D].哈尔滨工业大学,2013.
[4] 王超,邓平科,林宝军.一种基于Flash型FPGA的高可靠系统设计[J].微计算机信息,2009,25(23):134-135+119.
[5] Xilinx,Inc.Triple Module Redundancy Design techniques for Virtex FPGAs. Xilinx Application Note APP197,2006.
[6] Lima F D, Carro L, Reis R. Single Event Upset Mitigation Techniques for SRAM-based FPGAs[J].
[7] 王子懿,沈三民,杨峰.基于FPGA的高速大容量存储与传输系统.电子测量技术[M].机械工业出版社,2021-07,44:17.
[8] 费尔南达・利马・卡斯腾斯密得,路易吉・卡罗,里卡多・赖斯,等.基于SRAM的FPGA容错技术[M].中国宇航出版社,2009.
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