半导体测试设备的散热结构分析与优化

Journal: Advances in Computer and Autonomous Intelligence Research DOI: 10.12238/acair.v2i4.10285

王海峰, 尹学群, 王健琪

北京时代民芯科技有限公司

Abstract

随着5G通信、人工智能等技术的飞速发展,半导体行业迎来了前所未有的发展机遇。半导体测试设备作为保障半导体产品质量的关键环节,其性能稳定性和可靠性至关重要。然而,在高密度、高速率、高散热的趋势下,散热问题成为制约半导体测试设备性能进一步提升的瓶颈。因此,本文将从多个方面探讨半导体测试设备的散热优化方案,以期为半导体产业的持续健康发展提供有力支持。

Keywords

半导体制冷;散热;红外热像仪

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